佰维存储：公司自主研发的测试设备已对内赋能公司自有产线的测试环节

　　证券日报网讯 3月18日，佰维存储在互动平台回答投资者提问时表示，公司在NANDFlash及DRAM存储芯片领域的ATE测试、Burn-in（老化）测试、SLT（系统级）测试等多个环节，拥有从测试设备硬件开发、测试算法开发以及测试自动化软件平台开发的全栈测试开发能力。公司自主研发的测试设备已对内赋能公司自有产线的测试环节，并积极对外开拓市场。

（文章来源：证券日报）